AFM探針的一些常見問題及答案,大家來看看
發(fā)布日期:2021-12-03 10:55:29
         AFM探針的一些常見問題及答案,大家來看看。

  在AFM探針測試過程中,AFM探針廠家的工作人員從與很多同學(xué)的交流中了解到,很多同學(xué)對這個項目了解不多。所以AFM探針廠家對AFM探針測試問題進(jìn)行收集整理,希望對感興趣的伙伴們有所幫助。

  1.原子力顯微鏡能控制溫度嗎?

  答:目前AFM無法控制溫度,需要定制設(shè)備的溫控系統(tǒng)。

  2.測量二維mxene納米片樣品濃度有什么要求?

  答:沒有固定值,比TEM濃度略厚。通過觀察溶液的顏色來確定,確定合適的超聲波和清洗時間來保證分散效果,否則納米片樣品不均勻。

  3.單層石墨烯基二維材料的厚度如何制備?

  答:以DMF為溶劑,超聲半小時以上,靜置10分鐘,將液體滴加或旋涂在云母或硅襯底上,在適當(dāng)溫度下干燥,測試前用氮?dú)獯祾摺?br />
  4.腐蝕后的樣品可以用作原子力顯微鏡嗎?

  答:可以,但要確保樣品的表面波動低于微米級。

  5.吹氮干燥和冷凍干燥哪種方法更好?

  答:氮?dú)獯祾咭话阍诟稍锖筮M(jìn)行,以上兩種干燥方式差別不大。

  6.如何準(zhǔn)備薄膜測試樣品以保證平整度?

  答:貼膜應(yīng)盡量切小,以免裝裱過程中起泡。

  7.設(shè)定點(diǎn)的設(shè)置如何判斷為百分比?

  回答:根據(jù)選擇的測試類型設(shè)置特定的設(shè)定點(diǎn)。接觸模式和峰值力輕敲模式的設(shè)定點(diǎn)之間的關(guān)系與力成正比。攻絲模式的設(shè)定點(diǎn)和力之間的關(guān)系是拋物線。一般選擇自由振幅的80%,自由振幅是已知的。

  8.測量比表面積時測試時間過長是因為樣品的原因嗎?是不是沒有在規(guī)定的時間內(nèi)完成?

  答:測試時間與測試頻率有關(guān)。測試掃描頻率越高,掃描速度越快,時間越短,反之亦然。

  9.如果粉末分散液滴到云母片上,云母片是否小于200毫米?如果材料的尺寸在幾微米左右,可以測量嗎?

  答:云母的直徑一般為1厘米,我們的樣品臺尺寸為200毫米。其實AFM的測量范圍是很小的范圍,一個1cm左右大小的基片完全可以滿足測試要求。

  10.你通常在PFM用什么探頭?

 答:導(dǎo)電探針可以。建議使用單片機(jī)-Pit系列探頭。

 如果大家還想了解更多關(guān)于AFM探針的內(nèi)容可以聯(lián)系我們。我們是AFM探針的生產(chǎn)廠家,對于它有著充分的了解,可以幫助大家了解更多相關(guān)的內(nèi)容。