AFM探針的一些知識點(diǎn)，顯微鏡探針針尖廠家告訴你
發(fā)布日期：2022-11-23 10:13:04
顯微鏡探針針尖廠家認(rèn)為原子力顯微鏡(AFM)廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、材料科學(xué)、半導(dǎo)體、電化學(xué)等領(lǐng)域的納米技術(shù)研發(fā)。AFM成像模式有很多技術(shù)，總共20多種成像模式。其性能廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域，可以提高生產(chǎn)力，幫助用戶更方便快捷地獲得定量數(shù)據(jù)結(jié)果。

  顯微鏡探針針尖廠家認(rèn)為探針的重要組件包括：針尖、懸臂和基板。AFM檢測非常小的范德華力，探針決定了AFM靈敏度的核心，所以對探針材料有非常高的要求。探針材料一般是單晶硅或氮化硅(Si3N4)，其中一些可能有其他涂層(金或鋁等)。).背涂層有助于改善懸臂反射，提高反射激光束的檢測效率。其次，涂層可以給探針提供鐵。

  顯微鏡探針針尖廠家認(rèn)為除了材料選擇，微懸臂的長度、寬度、彈性系數(shù)(k)以及針尖的曲率半徑和形狀也很重要。一般來說，懸臂的彈性系數(shù)k越大，共振頻率(f0)越高。較大的k通常意味著掃描期間探針和樣品之間的力較大，而該力通常較小。太硬的探針可能導(dǎo)致樣品損壞，太軟的針尖可能導(dǎo)致機(jī)械模量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。探針越尖銳，分辨率越高。如果探針不夠細(xì)，它可能無法到達(dá)樣品的深槽或分辨更詳細(xì)的表面結(jié)構(gòu)。但是針尖太尖可能會損傷樣品表面，容易磨損。這時(shí)候建議用鈍的針尖。此外，針尖的形狀也會對結(jié)果產(chǎn)生一些影響。因此，在實(shí)際應(yīng)用中，探頭的質(zhì)量直接影響成像結(jié)果，需要根據(jù)實(shí)際情況選擇不同類型和規(guī)格的探頭。

顯微鏡探針針尖廠家認(rèn)為選擇合適的探針主要取決于三個(gè)因素：樣品的種類、具體應(yīng)用和分析模式。例如，太硬的探針可能會損壞樣品，但是太軟的探針可能會導(dǎo)致機(jī)械模量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。雖然更鋒利的探針會帶來更高的分辨率，但過于鋒利的尖 端可能會損壞樣品表面并容易磨損，因此建議使用鈍頭尖 端。然而，如果探針太鈍而不能達(dá)到必要的精度，它可能不能探測到樣品的深槽或掃出正確的表面形貌。對于某些應(yīng)用，我們需要耐磨探頭。因此，在實(shí)際應(yīng)用中，是否選擇合適的探頭將直接影響成像結(jié)果和操作者的工作效率。

以上就是關(guān)于AFM探針的一些知識點(diǎn)，希望可以幫助大家。