布魯克公司是從宏觀、亞微米到納米尺度紅外光譜（nanoIR）領(lǐng)域的世界領(lǐng)導(dǎo)者。在納米尺度下的物理和化學(xué)性質(zhì)等測量方面，我們致力于為聚合物、二維材料、材料科學(xué)、生命科學(xué)和微電子工業(yè)等多個領(lǐng)域提供創(chuàng)新的產(chǎn)品和解決方案。
Anasys 納米紅外光譜儀（nanoIR) 已被多所知名大學(xué)、國家實驗室和全球領(lǐng)先的化學(xué)/材料公司所采用。憑借高影響力和不斷增長的研究成果，通過廣大客戶的實際應(yīng)用，納米紅外光譜儀表現(xiàn)出了良好的易用性和高效性。

最高性能的散射式 -SNOM 和 AFM 成像系統(tǒng)

nanoIR3-s系統(tǒng)將散射式近場光學(xué)顯微鏡（s-SNOM）和納米紅外光譜儀（AFM-IR）集成于一臺原子力顯微鏡（AFM）中，所有功能可在一個測量平臺上實現(xiàn)。nanoIR3-s系統(tǒng)建立在Anasys的既有技術(shù)之上，并在基于AFM的納米光學(xué)表征領(lǐng)域中具有領(lǐng)先地位，它提供了納米級的紅外光譜分析，化學(xué)成像和具有10 nm空間分辨率的光學(xué)特性成像功能。該系統(tǒng)還支持納米級分辨率的AFM形貌成像和材料物理性質(zhì)成像功能，使其成為用于材料科學(xué)應(yīng)用領(lǐng)域相關(guān)研究的理想選擇。

nanoIR3-s系統(tǒng)的主要特點:

•  飛秒級寬波帶nano-FTIR光譜
• 互補的s-SNOM和AFM-IR技術(shù)
• 具有電學(xué)、力學(xué)和熱學(xué)測試模塊的全功能高分辨的AFM平臺

納米尺度下互補的成像技術(shù)

1）散射式近場光學(xué)顯微鏡（s-SNOM）

s-SNOM 應(yīng)用專利技術(shù)進行近場振幅和相位測量，測量過程中可以將探針定位在樣品上的固定位置，并改變光源的波長以提供近場光譜。s-SNOM 的點光譜成像是一項專利技術(shù)，由連續(xù)QCL激光器提供近場光譜、近場振幅和相位成像。

2）輕敲模式 AFM-IR

輕敲模式 AFM-IR 利用輕敲模式 AFM 作為傳感機構(gòu)，測量樣品表面的光熱膨脹分布。具體來說，輕敲模式AFM-IR 可以利用輕敲模式下探針懸臂不同的諧振模式來測量光熱膨脹。輕敲模式AFM-IR可以在樣品上施加較低的 AFM 作用力，以實現(xiàn)更高的化學(xué)成像空間分辨率，對于不同種類的樣品，其分辨率可達10nm或更低。

3）共振增強型 AFM-IR

共振增強型 AFM-IR 技術(shù)是利用寬帶、脈沖、可調(diào)諧的中紅外激光器自上而下照射樣品實現(xiàn)的，脈沖激光被樣品選擇性地吸收，引起快速和瞬時的局部膨脹，并通過AFM 探針的機械偏轉(zhuǎn)來檢測，得到的紅外吸收光譜可與傅里葉紅外光譜（FTIR）直接對應(yīng)解讀，并可根據(jù)現(xiàn)有的紅外光譜數(shù)據(jù)庫進行檢索。

4）力學(xué)性質(zhì)成像，納米熱學(xué)分析和電學(xué)AFM模式

nanoIR3-s還可以提供以洛倫茲接觸共振技術(shù)（LCR）測量AFM懸臂梁的接觸共振頻率，從而繪制樣品的力學(xué)性質(zhì)分布圖。nanoIR3-s 還可以通過納米熱學(xué)分析技術(shù)（nanoTA）在納米空間分辨率下定量測量樣品的熱熔點，同時對樣品微區(qū)進行熱性質(zhì)成像（SThM）。此外，nanoIR3-s 還提供了表面電勢測量模塊（KPFM）和導(dǎo)電原子力測量模塊（CAFM）。