衍射儀和散射系統(tǒng)

D8 ADVANCE
  • 產(chǎn)品品牌: 布魯克 Bruker
  • 產(chǎn)品產(chǎn)地: 德國(guó)
  • 應(yīng)用領(lǐng)域: 材料特性的無(wú)損表征--- 從基礎(chǔ)研究到工業(yè)質(zhì)控的任何材料進(jìn)行詳細(xì)分析
  • 產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 支持全面擴(kuò)展的模塊化系統(tǒng),可滿足您在環(huán)境和非環(huán)境條件下對(duì)粉末樣品、塊狀樣品和薄膜樣品的分析需求

一、亮點(diǎn)：

D8 ADVANCE：XRD、PDF和SAXS分析的解決方案

1）0D-1D-2D------所有維度都非常優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)質(zhì)量

不論在何種應(yīng)用場(chǎng)合，它都是您的最佳探測(cè)器：最高的計(jì)數(shù)率、動(dòng)態(tài)范圍和能量分辨率

2）DAVINCI------面向未來(lái)的多用途

采用了開放式設(shè)計(jì)并具有不受約束的模塊化特性的同時(shí)，將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計(jì)

3）≤0.01°2?------峰位精度

布魯克獨(dú)家提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM 1976c）整個(gè)角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證

4）D8 ADVANCE—面向未來(lái)的X射線衍射解決方案

基于獨(dú)一無(wú)二的D8衍射儀系列平臺(tái)的D8 ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選，如：

  • 典型的X射線粉末衍射（XRD）
  • 對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析
  • 小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）

由于具有出色的適應(yīng)能力，僅使用D8 ADVANCE，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。


  • 無(wú)論是新手用戶還是專家用戶，都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。
  • 不僅如此——布魯克獨(dú)家提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面，市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8 ADVANCE。

二、D8 ADVANCE 規(guī)格

D8 ADVANCE 規(guī)格

 

功能

規(guī)格

優(yōu)勢(shì)

TRIO 光路和TWIN光路

軟件按鈕切換：

  • 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫（BB幾何）
  • 高強(qiáng)度Ka1,2平行光束
  • 高分辨率Ka1平行光束
  • 專利：US10429326、US6665372、US7983389



  • 可在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行全自動(dòng)化電動(dòng)切換，無(wú)需人工干預(yù)
  • 是所有類型的樣品分析的理想之選，包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）


動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化

動(dòng)態(tài)同步：


  • 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫
  • 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)防散射屏
  • 可變探測(cè)器窗口
  • 2?角度范圍：小于1度至>大于150度



 


  • 數(shù)據(jù)幾乎不受空氣、儀器和樣品架散射的影響
  • 大大提高了檢測(cè)下限，可定量分析少量晶相和非晶相
  • 在較小的2θ角度，具有無(wú)與倫比的性能，可對(duì)粘土、藥物、沸石、多孔材料及其他材料進(jìn)行精確研究


 

LYNXEYE XE-T


  • 能量分辨率：<380 eV @ 8 KeV
  • 檢測(cè)模式：0D、1D、2D
  • 波長(zhǎng)：Cr、Co、Cu、Mo和Ag
  • 專利：EP1647840、EP1510811、US20200033275




  • 無(wú)需K?濾波片和二級(jí)單色器
  • 銅輻射即可100％過(guò)濾鐵熒光
  • 速度比傳統(tǒng)探測(cè)器系統(tǒng)快450倍
  • BRAGG 2D模式：使用發(fā)散的初級(jí)線束收集2D數(shù)據(jù)
  • 獨(dú)一無(wú)二的探測(cè)器保證：交貨時(shí)絕無(wú)壞道


EIGER2 R

Dectris 公司開發(fā)的基于混合光子計(jì)數(shù)技術(shù)的新一代探測(cè)器，支持多種模式（0D / 1D / 2D）


  • 在步進(jìn)掃描、連續(xù)掃描和高級(jí)掃描模式中無(wú)縫集成0D、1D和2D檢測(cè)
  • 符合人體工程學(xué)的免對(duì)準(zhǔn)探測(cè)器旋轉(zhuǎn)功能，可優(yōu)化γ或2?角度范圍
  • 使用完整的探測(cè)器視野、免工具全景衍射光束光學(xué)系統(tǒng) 
  • 連續(xù)可變的探測(cè)器位置，以平衡角度范圍和分辨率


旋轉(zhuǎn)光管

在線焦斑和點(diǎn)焦斑應(yīng)用之間輕松快捷地進(jìn)行免對(duì)準(zhǔn)切換


  • 無(wú)需斷開電纜或水管，無(wú)需拆卸管道
  • DAVINCI設(shè)計(jì)：全自動(dòng)檢測(cè)和配置聚焦方向


自動(dòng)進(jìn)樣器


  • FLIPSTICK：9個(gè)樣品
  • AUTOCHANGER：90個(gè)樣品


在反射和透射幾何中運(yùn)行

D8 測(cè)角儀

帶獨(dú)立步進(jìn)電機(jī)和光學(xué)編碼器的雙圓測(cè)角儀


  • 布魯克獨(dú)有的準(zhǔn)直保證，確保了無(wú)與倫比的準(zhǔn)確性和精確度
  • 絕對(duì)免維護(hù)的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)/齒輪裝置，終身潤(rùn)滑


非環(huán)境條件


  • 溫度：從-4K到2500K
  • 壓力：10-?mbar至100 bar
  • 濕度：5％至95％



  • 在環(huán)境和非環(huán)境條件下進(jìn)行研究
  • DIFFRAC設(shè)計(jì)助您輕松更換樣品臺(tái)


 

三、應(yīng)用

  • 物相定性分析
  • 結(jié)晶度及非晶相含量分析
  • 結(jié)構(gòu)精修及解析
  • 物相定量分析
  • 點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量
  • 無(wú)標(biāo)樣定量分析
  • 微觀應(yīng)變分析
  • 晶粒尺寸分析
  • 原位分析
  • 殘余應(yīng)力
  • 低角度介孔材料測(cè)量
  • 織構(gòu)及PDF分析
  • 薄膜掠入射
  • 薄膜反射率測(cè)量
  • 小角散射

四、特點(diǎn)

1）TWIN / TWIN 光路

布魯克獲得專利的TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)極大地簡(jiǎn)化了D8 ADVANCE的操作，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用，該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換。該系統(tǒng)無(wú)需人工干預(yù)，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換，且無(wú)需人工干預(yù)，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對(duì)包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇。

2）動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化（DBO）

布魯克獨(dú)有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測(cè)器窗口的自動(dòng)同步功能，可為您提供無(wú)與倫比的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí)。除此之外，LYNXEYE全系列探測(cè)器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

3）LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上唯一一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器，適用于所有波長(zhǎng)（從Cr到Ag），具有最高的計(jì)數(shù)率和最佳的角分辨率，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。

 

LYNXEYE XE-T具有優(yōu)于380 eV的能量分辨率，著實(shí)出色，是市面上性能最佳的熒光過(guò)濾器探測(cè)器系統(tǒng)。借助它，您可在零強(qiáng)度損失下對(duì)由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100％過(guò)濾，而且無(wú)需金屬濾波片，因此數(shù)據(jù)也不會(huì)存在偽影，如殘余K?和吸收邊。同樣，也無(wú)需用到會(huì)消除強(qiáng)度的二級(jí)單色器。

布魯克提供獨(dú)有的LYNXEYE XE-T探測(cè)器保證：交貨時(shí)保證無(wú)壞道！

 五、相關(guān)應(yīng)用圖片


1）材料可靠性鑒別(PMI)最為常見，這是因?yàn)槠鋵?duì)原子結(jié)構(gòu)十分靈敏，而這無(wú)法通過(guò)元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn)。



2）方法包括EVA軟件半定量分析、DQUANT軟件面積法分析和DIFFRAC TOPAS軟件全譜擬合分析法。



3）可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測(cè)量同步，然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果。



4）在DIFFRAC.TEXTURE軟件中，使用球諧函數(shù)和組分分析方法，生成極圖、取向分布函數(shù)(ODF)和體積定量分析。



5）在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘余應(yīng)力：通過(guò)sin2psi方法，使用Cr輻射測(cè)量得到。



6）在DIFFRAC.LEPTOS中，對(duì)多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進(jìn)行XRR分析。



7）在DIFFRAC.SAXS中，對(duì)EIGER2 R 500K通過(guò)2D模式收集的NIST標(biāo)樣SRM 8011 9 mm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析。