探針式輪廓儀
- 產(chǎn)品品牌: 布魯克 Bruker
- 產(chǎn)品產(chǎn)地: 德國(guó)
- 應(yīng)用領(lǐng)域: 微電子、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、高亮度 LED、醫(yī)療和材料科學(xué)行業(yè)的關(guān)鍵尺寸的納米級(jí)表面測(cè)量提供支持
- 產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 針對(duì)300mm尺寸樣品進(jìn)行優(yōu)化,用于質(zhì)量保證/質(zhì)量分析的探針式輪廓儀
布魯克公司的新型Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面板制造業(yè)。Dektak XTL集成氣體隔振裝置和方便的交互鎖裝置使儀器在全封閉工作環(huán)境下運(yùn)行,是當(dāng)今要求苛刻的生產(chǎn)環(huán)境的理想之選。它的雙攝像頭設(shè)置使空間感增強(qiáng),其高水平自動(dòng)化可生產(chǎn)量。
探針式輪廓儀系統(tǒng)Dektak XTL產(chǎn)品特性
一、Bruker公司的雙攝像頭控制系統(tǒng)
1.通過(guò)點(diǎn)擊實(shí)時(shí)視頻更快鎖定到關(guān)注點(diǎn)
2.通過(guò)選擇實(shí)時(shí)視頻中的兩個(gè)點(diǎn)快速定位樣品(自動(dòng)旋轉(zhuǎn)使連線水平)
3.通過(guò)在實(shí)時(shí)視頻中點(diǎn)擊掃描起始和結(jié)束位置簡(jiǎn)化測(cè)量設(shè)置(教學(xué))
二、自動(dòng)化設(shè)置和操作
1.借助300毫米的自動(dòng)化編碼XY工作臺(tái)以及360度旋轉(zhuǎn)能力,編程控制無(wú)限制測(cè)量位置。
2.利用帶圖形識(shí)別功能的Vision64位產(chǎn)品軟件減少使用中的定位偏差
3.將自定義用戶提示以及其它元數(shù)據(jù)編入您的方案中,并存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)
三、方便的分析和數(shù)據(jù)采集
1.快速分析儀支持大部分常用分析方法,可輕松實(shí)現(xiàn)分析程序自動(dòng)化
2.通過(guò)臺(tái)階檢測(cè)功能將分析集中于復(fù)雜樣品上感興趣的特征
3.通過(guò)賦予每個(gè)測(cè)量點(diǎn)名稱并自動(dòng)記錄到數(shù)據(jù)庫(kù)來(lái)簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)分析
4.Dektak在大樣品制造業(yè)中的傳奇性能
四、業(yè)界自動(dòng)分析軟件
新增軟件功能使Dektak XTL成為市面上易使用的探針式輪廓儀。系統(tǒng)使用的Vision64軟件,與Bruker公司的光學(xué)輪廓儀完全兼容。Vision64軟件可以進(jìn)行樣品任何位置測(cè)量、3D繪圖以及借助數(shù)百個(gè)內(nèi)置分析工具實(shí)現(xiàn)的高度定制表征方法。也可以使用Vision Microform軟件來(lái)測(cè)量曲率半徑等形狀。
五、探針式檢測(cè)技術(shù)
圖形識(shí)別功能可以盡量減少操作員誤差并測(cè)量位置精度。在同一軟件包內(nèi),以直觀流程進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和2D、3D分析。每個(gè)系統(tǒng)都帶有Vision軟件許可證,可在裝有Windows7操作系統(tǒng)的個(gè)人電腦上安裝,用戶可在電腦桌面上創(chuàng)建數(shù)據(jù)分析和報(bào)告。
Dektak XTL擁有超過(guò)40年的探針經(jīng)驗(yàn)和軟件定制生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn),符合現(xiàn)在和未來(lái)的嚴(yán)格的行業(yè)發(fā)展藍(lán)圖。
相關(guān)圖片
1)Vision64 生產(chǎn)界面
2)操作員將 300mm 晶圓裝載到 Dektak XTL 上
一、晶片應(yīng)用: 沉積薄膜(金屬、有機(jī)物)的臺(tái)階高度 抗蝕劑(軟膜材料)的臺(tái)階高度 蝕刻速率測(cè)定 化學(xué)機(jī)械拋光(腐蝕,凹陷,彎曲) 二、大型基板應(yīng)用: 印刷電路板(凸起、臺(tái)階高度) 窗口涂層 晶片掩模 晶片卡盤(pán)涂料 拋光板 三、玻璃基板及顯示器應(yīng)用: AMOLED 液晶屏研發(fā)的臺(tái)階步級(jí)高度測(cè)量 觸控面板薄膜厚度測(cè)量 太陽(yáng)能涂層薄膜測(cè)量 四、柔性電子器件薄膜: 有機(jī)光電探測(cè)器 印于薄膜和玻璃上的有機(jī)薄膜 觸摸屏銅跡線
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