原子力顯微鏡
- 產(chǎn)品品牌: 布魯克 Bruker
- 產(chǎn)品產(chǎn)地: 德國
- 應用領(lǐng)域: 半導體、納米材料、通訊、生物學、數(shù)據(jù)儲存、食品、化學、地質(zhì)、能源、環(huán)境
- 產(chǎn)品簡介: Dimension ICON 是全球性能最優(yōu)的大樣品臺AFM
Dimension Icon 原子力顯微鏡
Bruker Dimension® Icon? 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應用體驗,具有高水平的性能、功能和配件選擇, 其測試功能強大,操作簡便易行。齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗,廣大客戶反饋,結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設備需求, Dimension Icon進行了全面革新。全新的系統(tǒng)設計,實現(xiàn)了前所未有的低漂移和低噪音水平?,F(xiàn)在,用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。
一、亮點
1)終極性能------探針掃描式掃描器
獨特的傳感器設計,在閉環(huán)條件下,也能實現(xiàn)開環(huán)噪聲級別的大樣品高分辨率掃描成像,熱漂移速率低于200 pm
2)操作簡單易用------無以倫比的效率
提供簡單、直觀的操作流程,以快速實現(xiàn)發(fā)表級數(shù)據(jù)的獲取。
3)優(yōu)秀的多功能性------多功能的配件選擇
適合廣泛的實驗、模式、技術(shù)和半自動測量。
二、特點
1)特征------高性能和高分辨率
Dimension® Icon?優(yōu)秀的分辨率,與 Bruker 特有的電子掃描算法相結(jié)合,顯著提升了測量速度與質(zhì)量。Dimension® Icon?是針尖掃描技術(shù)的最新革新,一直處于領(lǐng)先地位。該系統(tǒng)配置溫度補償位置傳感器,實現(xiàn)了 Z 軸亞埃級和 XY 軸埃級的低噪音水平,將這個性能應用在 90 微米掃描范圍、大樣品臺系統(tǒng)上,效果甚至超過高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ 閉環(huán)掃描頭的新設計使儀器在較高掃描速度工作時,圖像質(zhì)量也不會被損壞,實現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。配置Bruker 專利的PeakForce®技術(shù),Dimension Icon可實現(xiàn)智能獲取高分辨圖像。
2)卓越表現(xiàn)
Dimension Icon原子力顯微鏡已成為研究領(lǐng)域最受歡迎的原子力顯微鏡型號之一, 使用Dimension Icon發(fā)表文章的數(shù)目遠比其他大樣品臺AFM要多。Dimension Icon 在原有的操作平臺上引入最新技術(shù),展現(xiàn)出更高的性能和更快的測量速度。其軟件直觀的工作流程,使其操作過程比以往最先進的AFM 技術(shù)更加簡便。Dimension Icon用戶無需像以前一樣,通常需要幾小時的專業(yè)參數(shù)調(diào)整,即可立即獲得高質(zhì)量的測量結(jié)果。Dimension Icon 的每個方面,從完全開放式針尖樣品空間,到軟件參數(shù)預設置,都經(jīng)過特殊設計以求達到無障礙操作和驚人的AFM 易用性。
3)靈活的AFM平臺
Dimension Icon 展現(xiàn)出了的無與倫比的性能,穩(wěn)定性和靈活性,幾乎可以實現(xiàn)以前只有在特制系統(tǒng)中才能完成的所有測量。利用開放式平臺,大型或多元樣品支架和許多簡單易用的性能,把AFM 的強大功能完全展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前,為高質(zhì)量AFM成像和納米操作設定了新的標準。
Dimension Icon 提供對性能沒有任何影響的靈活性平臺, 一個平臺,無限可能:
開放的平臺,能整合其他技術(shù),
開放的軟件和硬件,能輕松定制您的研究應用 - "如果它不存在, 就發(fā)明它"
電池、有機太陽能等研究的完整解決方案
三、應用
AFM 模式------用AFM拓展您的應用
憑借一整套出色的AFM成像模式,布魯克能為您每項研究提供適用的 AFM 技術(shù)。
基于核心成像模式(接觸模式和輕敲模式),布魯克提供的全套 AFM測試模式,允許用戶探測樣品的電學、磁性等豐富性能。布魯克獨創(chuàng)的全新的峰值力輕敲技術(shù)作為一種新的核心成像模式,已被應用到多種測量模式中,能同時提供形貌、電學和力學性能數(shù)據(jù)。
四、Dimension Icon數(shù)據(jù)示例
1)輕敲(Tapping)模式中的syndiotactic polypropylene閉環(huán)成像。掃描范圍: 5um。
2)Syndiotactic polypropylene結(jié)晶動力學研究:本體聚合物從室溫(左)快速加熱至1600℃的完全熔化·狀態(tài)。128℃時,促進了等溫結(jié)晶的平衡,并形成比原始層狀晶體更大的晶體。右圖顯示101分鐘的部分結(jié)晶圖像。
3)空氣中DNA的輕敲模式閉環(huán)圖像。掃描范圍: 2um,掃描速率: 4.88Hz。
4)HOPG上C36H74烷的AFM圖像。清晰可見的片層結(jié)構(gòu)間距,與完全擴展C36H74鏈構(gòu)象下的長度間距(±4.5nm)一致。
5)使用TR-TUNA模式對金圖案化硅基底上分散的單壁碳形貌和導電性同時成像。掃描范圍: 1um。
6)壓電薄膜材料上Dimension Icon loge刻蝕圖案的壓電響應力顯微鏡(PFM)振幅圖像。顯示lcon探針在刻蝕過程中的精確XY定位控制。掃描范圍: 20um
7)Harmonix黏附力成像顯示毛細力相互作用。
8)HOPG上C36H74烷的閉環(huán)、高分辨率AFM圖像。掃描范圍: 100nm