納米力學測試系統(tǒng)

Hysitron PI95用于TEM的納米壓痕儀
  • 產(chǎn)品品牌: 布魯克 Bruker
  • 產(chǎn)品產(chǎn)地: 德國
  • 應用領域: 半導體、光學、汽車、船舶、航空、航天、數(shù)據(jù)存儲、內(nèi)燃機制造、生物醫(yī)藥、高分子材料等(覆蓋聚合物材料、無機非金屬材料、金屬材料和生物材料等)
  • 產(chǎn)品簡介: 用于TEM的納米壓痕儀------第一個能夠直接在透射電子顯微鏡內(nèi)觀察納米力學測試的設備,原位納米力學測試儀器

布魯克的Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter 是首臺能夠直接在透射電子顯微鏡 (TEM) 內(nèi)觀察的深度感應納米壓痕設備。有了這種測試儀器,不僅能夠?qū){米級材料的力學響應進行成像,還可以同時獲取載荷-位移數(shù)據(jù)。此外,集成視頻接口允許在載荷-位移曲線和對應的 TEM 視頻之間進行同步。

一、亮點

1)全面------深度感應納米壓痕

實現(xiàn)TEM內(nèi)納米力學測試的直接觀測;

2)高性能------高級控制模塊

提供高達 78 kHz 反饋速率和38 kHz 的數(shù)據(jù)采集速率,以捕獲瞬態(tài)事件(如錯位突變等)。

3)精確------三級定位系統(tǒng)

包括三軸定位器、3D 壓電調(diào)整器和用于靜電驅(qū)動和電容位感應的高級傳感器。

二、特點

1)針對您的 TEM 的定制解決方案

Hysitron PI 95 經(jīng)過精心設計,可與 JEOLFEI、日立和蔡司顯微鏡兼容。有了這種儀器,不僅能夠?qū){米尺度材料的力學反應進行成像,而且可以同時獲取定量機械數(shù)據(jù)。集成的視頻接口允許載荷-位移曲線和相應的 TEM 視頻同步。

2)針對納米級研究進行了優(yōu)化

Hysitron PI 95 特別適用于納米尺度現(xiàn)象的研究。在 TEM 中執(zhí)行這些類型的研究可以明確區(qū)分力或位移瞬變的許多可能原因,這些原因可能包括錯位爆發(fā)、相變、剝落、剪切帶或斷裂產(chǎn)生。

3)無與倫比的性能

Hysitron PI 95 采用三級控制進行尖端定位和力學測試。除了三軸粗定位器和用于精細定位的三維壓電調(diào)整器外,該儀器還配備了用于靜電驅(qū)動的傳感器和用于獲取定量納米級力學測試數(shù)據(jù)的電容位移傳感器。

三、提供最廣泛的創(chuàng)新表征技術------選項和附件

1) 樣品安裝------納米級材料的多種設計;

2SEM TEM 加熱臺------直接測量和觀察熱啟動材料轉(zhuǎn)化;

3) 原位納米劃痕模塊------同時具有正壓力和橫向力的高分辨率測量功能;

4)納米動態(tài)力學------施加振蕩力,持續(xù)測量粘彈性和疲勞特性,獲得其作為接觸深度、頻率和時間的函數(shù);

5)電學特性模塊(ECM)------在納米壓痕、壓縮或拉伸加載期間同時進行原位電特性測量;

6)壓轉(zhuǎn)拉模塊(PTP)------專為納米線和獨立薄膜而設計。


 四、相關圖片


1Hysitron PI 95 經(jīng)過精心設計,可與 JEOL、FEI、日立和蔡司顯微鏡兼容

 

2)壓縮前和壓縮后鎳納米柱的暗場 TEM 圖像。最初在柱子中觀察到的高錯位密度在壓縮時已經(jīng)消失。(來源:Nature Materials 7, 115-119 2007.

 

3)示例 1 μN 劃痕測試:(1) 正向和橫向載荷,正向位移隨時間變化;(2-5) 原位 TEM 視頻中的相應幀,顯示 DLC 薄膜在顆粒頂部的變形

 

4)壓縮VLS法生長的n型摻雜的硅納米柱時的電學表征。 D.D. Stauffer 博士論文,“納米級脆性材料的變形機理”,明尼蘇達大學(2011),第 150-152 頁