一、亮點

定量元素面分析

1）>15年------TEM 中應(yīng)用硅漂移探測器經(jīng)驗

EDS 探測器和電子器件專為快速、精確、可靠的數(shù)據(jù)采集而設(shè)計，即使在擁有原子分辨率的高端 TEM 中，也無需擔(dān)心 EDS 對 TEM 性能的干擾。

2）80keV------具有空前能量上限的元素識別與定量

由于 TEM 獨有高能電子，因此應(yīng)該采集更高能量的元素譜峰，用于定量 EDS 分析

3）單原子------單個原子的識別和原子柱面分析

使用高固體角的 XFlash 6T 探測器，結(jié)合高端高亮度冷場發(fā)射球差校正 STEM，可以在幾秒鐘內(nèi)識別單原子

4）TEM、STEM 和 SEM （T-SEM） 中納米尺度的 EDS 元素面分析

清晰的多功能測量裝置和細(xì)管徑幾何構(gòu)型可確保在常規(guī)基礎(chǔ)上快速可靠的采集 TEM EDS 數(shù)據(jù)。使用 HyperMap 或譜圖獲取高光譜成像，我們的軟件保存每個像素的譜圖和定量分析所需的所有元數(shù)據(jù)，用于之后的檢測和處理。

       a）適合不同電子顯微鏡極靴類型的的 EDS 細(xì)管徑設(shè)計和優(yōu)化的EDS 幾何構(gòu)型確保了最大信號采集角和檢出角

       b）有助于避免試樣傾斜、吸收、陰影和系統(tǒng)峰

       c）無窗探測器可進一步提高檢測效率，特別是在低能端，可用于輕元素和高核電荷數(shù)元素 L、M 和N 線系能量峰的檢測

       d）默認(rèn)模式下自動回縮和自定義可確保探測器更長的使用壽命和更豐富的實驗應(yīng)用

       e）EDS 可用于原位實驗，具有不斷變化的數(shù)據(jù)流，比如高溫實驗

       f）全面的軟件套件 ESPRIT，可用于在線和離線的數(shù)據(jù)分析

二、優(yōu)勢：

在線和離線的 TEM EDS 軟件

TEM 的 QUANAX EDS 包含一個靈活和透明的分析軟件包 ESPRIT。元素面分析、HyperMap 或頻譜圖像以及生成定量元素面分析可使用默認(rèn)和用戶可調(diào)的方法設(shè)置，允許用戶快速、全面地挖掘樣品數(shù)據(jù)。有標(biāo)樣和無標(biāo)樣的定量分析用于譜圖、選區(qū)分析、線掃描和元素面分析，以及基于 PCA 的物相分析和自動統(tǒng)計顆粒物分析。

       a）帶個人硬件密鑰和/或 LAN 選項的離線分析軟件，用于學(xué)生或?qū)嶒炇揖W(wǎng)絡(luò)

       b）開放透明的用戶界面：您看到的就是您得到的

       c）清除定量例程的設(shè)置、可修改和保存/重新加載 EDS 數(shù)據(jù)定量方法

       d）電子透明試樣有兩種定量方法：Cliff-Lorimer 和Zeta 因子法

       e）理論的 Cliff-Lorimer 因子可以計算任何電壓，包括SEM（SEM 中的 TEM）上的低電壓，它基于一個大型的穩(wěn)步更新的原子數(shù)據(jù)庫

       f）使用標(biāo)準(zhǔn)試樣輕松對實驗的 Cliff-Lorimer 和 Zeta 因子進行軟件引導(dǎo)校準(zhǔn)

       g）標(biāo)樣未涵蓋的 Zeta 因子可以使用現(xiàn)有的 Cliff-Lorimer 因子進行計算

       h）EDS 譜圖背景模型的選擇：薄樣品物理模型，數(shù)學(xué)模型，厚樣品物理模型

       i）報表生成和打印格式設(shè)置

三、相關(guān)應(yīng)用圖片