導(dǎo)電探針的工作原理是什么?
發(fā)布日期:2022-02-11 13:41:36
    導(dǎo)電探針顯微分析原理及其發(fā)展初期基于X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術(shù),這種儀器本質(zhì)上是這兩種儀器的科學(xué)組合。電子探針是以電子形成的探針(細(xì)電子束)作為x射線的刺激源進行顯微x射線光譜分析的儀器。分析對象是固體物質(zhì)表面的小粒子或小區(qū)域,Z的小范圍直徑為1m。

  導(dǎo)電探針的工作原理是什么?

  導(dǎo)電探針的主要功能是微區(qū)成分分析。它是以電子光學(xué)和X射線光譜原理為基礎(chǔ)開發(fā)的分析儀器。

  導(dǎo)電探針的原理是用:微焦電子束進入樣品表面,刺激樣品元素的特性X射線,分析特性X射線的波長(或能量),就可以知道元素種類。通過分析特征x射線的強度,可以知道元素的含量。

  鏡子部分結(jié)構(gòu)與SEM相同,檢查部分使用X射線譜檢測X射線的特征波長(光譜儀)和特征能量(光譜儀),對微區(qū)進行化學(xué)成分分析。

  x射線光譜是電子探針的信號檢測系統(tǒng)分為什么?

  能量色散譜儀(EDS)是用于測量X射線特征能量的能譜(EDS)。

  波長色散譜儀(WDS),簡稱譜儀,用于測量特征X射線波長。

  WDS組成:頻譜主要由分光晶體和X射線檢測系統(tǒng)組成。

  根據(jù)原理:布拉格定律,樣品產(chǎn)生的特性X射線經(jīng)過一定晶面間隔的晶體光譜,波長不同的特征X射線會有不同的衍射角度。通過連續(xù)改變q,可以在與X射線入射方向形成2q的位置檢測不同波長的特性X射線信號。根據(jù)莫塞萊定律,可以確認(rèn)測量的物質(zhì)中包含的元素。

  為了增加接收的X射線強度,分光晶體通常使用彎曲的晶體。

  測試探針一般采用鈹銅材料,表面鍍金,提高導(dǎo)電性能。測試探頭是導(dǎo)電的,主要用于信號傳輸和電流傳導(dǎo)。探針具有壽命長、可連續(xù)使用的特性,成本不高,因此在電子測試中得到廣泛應(yīng)用,發(fā)揮著更重要的作用。

  在電子測試中,碎片模塊可用于手機電池、屏幕、攝像頭等連接器模塊的測試。整體碎片結(jié)構(gòu),體形薄,鍍金后經(jīng)過硬處理,可攜帶的電流可達(dá)50A,電流流向相同材料時,可提供更好的連接能力。在小pitch領(lǐng)域,碎片模塊的適應(yīng)性很高,優(yōu)選值范圍至少達(dá)到0.15毫米,性能非常穩(wěn)定。碎片模塊的平均壽命在20w次以上,操作、維護、環(huán)境都很好的情況下為50w次,壽命長,不需要經(jīng)常更換。高頻率測試的響應(yīng)能力很強,可以保持穩(wěn)定的連接。