光學(xué)輪廓儀
- 產(chǎn)品品牌: 布魯克 Bruker
- 產(chǎn)品產(chǎn)地: 德國(guó)
- 應(yīng)用領(lǐng)域: 骨科醫(yī)療植入物等大型樣品、航空航天業(yè)、汽車(chē)業(yè)和精密加工業(yè)的大型零部件等
- 產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 超靈活輪廓儀,集成式防震臺(tái)和大型龍門(mén)架
布魯克是三維表面計(jì)量與檢測(cè)的全球領(lǐng)導(dǎo)者,提供快速快速的非接觸式三維輪廓表征方案。樣品小至顯微視場(chǎng)下的MEMS結(jié)構(gòu),大到完整的機(jī)械引擎。我們的光學(xué)輪廓儀基于Wyko®專(zhuān)有核心技術(shù),歷經(jīng)十代積累,提供了其他測(cè)量系統(tǒng)無(wú)法企及的高精度與穩(wěn)定性。在今日,這些正成為精密表面三維測(cè)量的主流應(yīng)用場(chǎng)景。
三維光學(xué)輪廓儀NPFLEX ,針對(duì)大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測(cè)試分析系統(tǒng)
1)靈活測(cè)量大尺寸、特殊角度的樣品,其靈活性表現(xiàn)在可用于測(cè)量表征更大的面型和更難測(cè)的角度樣品
- 創(chuàng)新性的空間設(shè)計(jì)使得可測(cè)零件(樣品)更大、形狀更多;
- 開(kāi)放式龍門(mén)、客戶定制的夾具和可選的搖擺測(cè)量頭可輕松測(cè)量想測(cè)部位。
通常情況下,測(cè)量比較大的樣品或者特殊形狀、特定表面的樣品時(shí),往往花費(fèi)較長(zhǎng)的時(shí)間對(duì)樣品進(jìn)行切割處理,才可進(jìn)行測(cè)量。如今,開(kāi)發(fā)出新型的NPFLEX測(cè)量系統(tǒng),擁有超大測(cè)量空間,最高可測(cè)13英寸,這種創(chuàng)新性的空間設(shè)計(jì),可以測(cè)量更大尺寸、更復(fù)雜形狀的樣品。開(kāi)放式龍門(mén)、定制的夾具和可選的搖擺測(cè)量頭可輕松測(cè)量想測(cè)的樣品部位。開(kāi)放式結(jié)構(gòu)與Bruker的專(zhuān)利頭部調(diào)節(jié) tip/tilt測(cè)量頭,包含理想的數(shù)值孔徑及實(shí)現(xiàn)了更長(zhǎng)的工作距離下測(cè)量。這使得NPFLEX善于測(cè)量深溝,高縱橫比的孔洞,或表面高低起伏比較大的樣品。
2)高效的納米級(jí)分辨率的三維表面信息測(cè)量
- 每次測(cè)量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的;
大家對(duì)很多樣品的表面性質(zhì)感興趣,但是要獲得這些品性質(zhì),需要檢測(cè)大量的樣品表面定量信息。許多應(yīng)用在航空航天,汽車(chē),醫(yī)療植入產(chǎn)業(yè)的大尺寸樣品,往往只能借助于二維接觸式檢測(cè)工具進(jìn)行表征,獲得的只是一條線測(cè)量數(shù)據(jù)。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓,但是無(wú)法深入研究樣品表面更精確的紋理細(xì)節(jié)信息。
- 更容易獲得更多的測(cè)量數(shù)據(jù)來(lái)幫助分析
NPFLEX測(cè)試系統(tǒng)采用白光干涉原理,在每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)可以實(shí)現(xiàn)表面形貌的三維信息收集,且具有亞納米級(jí)的垂直分辨率。所收集的數(shù)據(jù)不受探針曲率半徑的局限,高效的三維表面信息測(cè)量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結(jié)果,更多的測(cè)量數(shù)據(jù)來(lái)幫助分析樣品性質(zhì)。
3)垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
- 干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)每一個(gè)測(cè)量象素點(diǎn)上的亞納米級(jí)別垂直分辨率;
- 工業(yè)界使用多年業(yè)已驗(yàn)證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計(jì)意義的數(shù)據(jù),為日漸苛刻的加工工藝提
供保障。
4)快速獲取測(cè)量數(shù)據(jù),測(cè)試過(guò)程迅速高效
- 最少的樣品準(zhǔn)備時(shí)間和測(cè)量準(zhǔn)備時(shí)間;
NPFLEX三維測(cè)量系統(tǒng),能夠靈活高效的獲取大量測(cè)試數(shù)據(jù)。大大縮短了樣品制備時(shí)間和測(cè)量方案設(shè)置時(shí)間,操作者可以快速更換樣品,而且無(wú)需全面掌握樣品形狀和表面形貌的前提下,對(duì)樣品的不同表面進(jìn)行測(cè)量。僅需要不到15秒的時(shí)間,就可以出色地完成一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的數(shù)據(jù)采集和分析工作
- 比接觸法測(cè)量(一條線)更大的視場(chǎng)(一個(gè)面)獲得表面更多的數(shù)據(jù)
NPFLEX采用非接觸式測(cè)量技術(shù),具有獨(dú)特的開(kāi)放式大樣品臺(tái)和直觀迅速的分析軟件來(lái)表征樣品的表面紋理,光潔度,粗糙度,彎曲度,坡度,和許多其他特征,測(cè)量數(shù)據(jù)精度高達(dá)埃級(jí)。該系統(tǒng)提供了最全面的計(jì)量平臺(tái),可用于大型精密加工部件的表面特性表征。
5)卓越品質(zhì),堅(jiān)固耐用
NPELEX整體設(shè)計(jì)堅(jiān)固耐用,大理石機(jī)臺(tái)可以承受最重高達(dá)170磅的重量。開(kāi)放式龍門(mén)設(shè)計(jì)可以靈活性測(cè)量表征更大的面型和更難測(cè)的角度??蛻舳ㄖ频膴A具和可選的搖擺測(cè)量頭可輕松的轉(zhuǎn)換測(cè)量方向,表征樣品的不同位置。在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中,使用NPFLEX,對(duì)于樣品大小,取樣過(guò)程以及實(shí)驗(yàn)環(huán)境的要求,都相對(duì)寬松很多,使得實(shí)驗(yàn)可以靈活簡(jiǎn)便的完成,幫助生產(chǎn)者獲得產(chǎn)品性質(zhì)的精密數(shù)據(jù)。
6)為客戶量身訂做最合適的儀器配置
NPFLEX在基本配置的基礎(chǔ)上,還有很多備選的配件和配置方滿足不同客戶的測(cè)量需求:
- 可選的搖擺測(cè)量頭可輕松測(cè)量想測(cè)的樣品部位,測(cè)量樣品的側(cè)壁、傾斜表面以及斜面邊緣,重復(fù)性好。
- 獲得研發(fā)大獎(jiǎng)的透過(guò)透明介質(zhì)測(cè)量模塊(ThroughTransmissive Media, TTM)模塊,結(jié)合環(huán)境測(cè)試腔,可以穿透5cm厚的色教材料,可對(duì)樣品進(jìn)行加熱或者冷卻,進(jìn)行原位測(cè)量。
- 可選的折疊鏡頭能夠測(cè)量碗狀樣品的側(cè)壁和底部孔洞。
相關(guān)圖片
1)NPFLEX 通用零部件夾具裝置
2)NPFLEX 使用 Phi 樣品旋轉(zhuǎn)配置執(zhí)行測(cè)量
3)Vision64 用戶界面上顯示的三維打印零部件表面粗糙度分析結(jié)果