掃描探針顯微鏡探針的特點(diǎn)有哪些
發(fā)布日期：2023-01-31 15:00:00

 掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為掃描探針顯微鏡是掃描隧道顯微鏡和各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡AFM、激光力顯微鏡LFM、磁力顯微鏡MFM等)的總稱。在掃描隧道顯微鏡的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的。它是近年來(lái)國(guó)際上發(fā)展起來(lái)的一種表面分析儀器，運(yùn)用了光電技術(shù)、激光技術(shù)、微弱信號(hào)檢測(cè)技術(shù)、精 密機(jī)械設(shè)計(jì)與加工、自動(dòng)控制技術(shù)、數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)、應(yīng)用光學(xué)技術(shù)、計(jì)算機(jī)高速采集與控制和高分辨率圖形處理技術(shù)。

掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為掃描探針顯微鏡(SPM)因其高分辨率(原子分辨率)、實(shí)時(shí)、真實(shí)空間和原位成像，對(duì)樣品在大氣、常溫甚至溶液中成像無(wú)特殊要求，以及納米操縱和處理功能、系統(tǒng)和配套設(shè)施相對(duì)簡(jiǎn)單、成本低廉等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料科學(xué)、物理、化學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。并取得了許多重要成果。

掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為作為一種新的顯微鏡工具，SPM與以前的顯微鏡和分析儀器相比具有明顯的優(yōu)勢(shì)：

首先，SPM的分辨率高。它可以輕松地“看見(jiàn)”原子，這是普通顯微鏡甚至電子顯微鏡都難以實(shí)現(xiàn)的。

其次，SPM獲得樣品表面的實(shí)時(shí)和真實(shí)的高分辨率圖像。與一些分析儀器不同，樣品的表面結(jié)構(gòu)是通過(guò)間接或計(jì)算方法來(lái)估計(jì)的。也就是說(shuō)，SPM真的看到了原子。

第三，放寬了SPM的使用環(huán)境。掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為電子顯微鏡等儀器對(duì)工作環(huán)境有嚴(yán)格的要求，測(cè)試前將樣品置于高真空中。SPM可以在真空中工作，可以在大氣、低溫、常溫、高溫甚至溶液中使用。因此，SPM適用于各種工作環(huán)境下的科學(xué)實(shí)驗(yàn)。掃描探針顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛。無(wú)論是物理、化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)等基礎(chǔ)學(xué)科，還是材料、微電子等應(yīng)用學(xué)科，都有它的應(yīng)用。

掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為掃描探針顯微鏡探針廠家認(rèn)為目前掃描探針顯微鏡中廣泛使用的管狀壓電掃描器的垂直擴(kuò)展范圍一般比平面掃描小一個(gè)數(shù)量級(jí)。掃描時(shí)，掃描儀隨著樣品表面的起伏而伸縮。如果被測(cè)樣品表面的波動(dòng)超過(guò)掃描儀的擴(kuò)展范圍，系統(tǒng)將無(wú)法 正常工作，甚至損壞探頭。因此，掃描探針顯微鏡對(duì)樣品表面的粗糙度要求較高。