原子力探針廠家認(rèn)為在材料科學(xué)中，有文獻(xiàn)要研究無機材料或有機材料是結(jié)晶的還是無定形的分子或原子的存在狀態(tài)，中間體和各種相的變化，以找出結(jié)構(gòu)與性質(zhì)之間的規(guī)律。在這些研究中，AFM使研究人員能夠從分子或原子水平上直接觀察晶體或非晶的形貌、缺陷、空位能、聚集能以及各種力的相互作用。這些對于掌握結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系非常重要。
原子力探針廠家認(rèn)為納米材料是當(dāng)今材料領(lǐng)域備受關(guān)注的話題，AFM也是納米材料微觀研究中的一種分析和可視化工具。隨著納米材料科學(xué)的發(fā)展和納米制備技術(shù)的進(jìn)步，需要新的測試技術(shù)和表征方法來評價納米粒子的粒徑、形貌、分散性和團(tuán)聚性。
原子力探針廠家認(rèn)為原子力顯微鏡的橫向分辨率為0.1
~ 0.2 nm，縱向分辨率為0.01nm，可有效表征納米材料。納米科學(xué)與技術(shù)是在納米尺度(0.1 ~
100納米)上研究物質(zhì)(包括原子和分子)的特性和相互作用，并利用這些特性的一門新科學(xué)。其目標(biāo)是在納米尺度上直接根據(jù)物質(zhì)的特性制造出具有特定功能的產(chǎn)品，實現(xiàn)生產(chǎn)力的飛躍。納米科學(xué)包括納米電子學(xué)、納米力學(xué)、納米材料、納米生物學(xué)、納米光學(xué)和納米化學(xué)。
原子力探針廠家認(rèn)為納米科學(xué)的不斷成長和發(fā)展與以掃描探針顯微鏡為代表的各種納米尺度研究方法的產(chǎn)生和發(fā)展密切相關(guān)。可以說，SPM的問世對納米技術(shù)的誕生和發(fā)展起到了基礎(chǔ)性的推動作用，納米技術(shù)的發(fā)展為SPM的應(yīng)用提供了廣闊的天地。SPM是各種顯微技術(shù)的大家族，包括掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)。SPM不僅能以納米尺度甚至原子尺度的空間分辨率觀測真空、大氣或液體中物質(zhì)表面原子或分子的幾何分布和態(tài)分布密度，還能確定物體的局部光、電、磁、熱和機械特性，應(yīng)用范圍非常廣泛，如刻劃納米級細(xì)線，甚至實現(xiàn)對原子和分子的操縱。這項技術(shù)集觀察、分析和操縱原子和分子的功能于一體，已經(jīng)成為納米科學(xué)研究的主要工具。
原子力探針廠家認(rèn)為在粉體材料的研究中，自然界和工業(yè)生產(chǎn)中存在大量的粉體材料，但目前粉體材料的檢測方法較少，樣品制備困難。AFM提供了一種新的檢測方法。樣品制備簡單，易于操作。
原子力探針的一些常識
發(fā)布日期：2023-02-11 11:12:25