力學(xué)測(cè)試及表面分析
布魯克 TriboLab CMP---化學(xué)機(jī)械拋光研發(fā)規(guī)模的工藝研究和材料表征系統(tǒng)
布魯克Hysitron TI Premier 納米力學(xué)測(cè)試儀器在緊湊平臺(tái)中提供了定量納米力學(xué)表征技術(shù)
布魯克Hysitron PI89用于SEM的納米壓痕儀------穩(wěn)定,精確和模塊化的原位SEM納米力學(xué)測(cè)試設(shè)備
布魯克PI95用于TEM的納米壓痕儀------第一個(gè)能夠直接在透射電子顯微鏡內(nèi)觀察納米力學(xué)測(cè)試的設(shè)備，原位納米力學(xué)測(cè)試儀器
布魯克PI85L用于SEM的納米壓痕儀----深度傳感的納米力學(xué)測(cè)試儀器,可與掃描電子顯微鏡(SEM)聯(lián)用，原位納米力學(xué)測(cè)試儀器
